| 測量方法 | X射線 |
|---|---|
| 產地 | 德國 |
| 電壓 | 12V |
| 類型 | 鍍層測厚儀 |
| 適用范圍 | 金屬鍍層測厚 |
| 外形尺寸 | 802-800-601 |
| 重量 | 120 |
| 屏幕色彩 | 彩色 |
| 品牌 | 菲希爾 |
| 質量認證 | ROHS |
XAN系列測厚儀
XAN? 系列儀器適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復雜或含量微小也都能測量。該系列產品簡單易用且性價比高，因此在同類產品中脫穎出。
特性： 操作簡單且性價比高。 自下而上進行測量，從而快速、簡便地定位樣品 廣泛適用：為各個行業的需求量身定制了多種型號 以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分析 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型，可對薄鍍層及微量成分進行精測量 應用： 鍍層厚度測量 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層 時尚首飾：對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統進行分析 抗磨損鍍層，如：對化學鎳鍍層的厚度及磷含量進行測量 測試納米級基礎金屬化層（凸點下金屬化層，UBM） 材料分析 測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度 專業實驗室、檢測機構以及科研院校中常規材料分析 依據 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則，檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質（例如重金屬） 功能性鍍層的成分，如測定化學鎳中的磷含量 
